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涂層測厚儀試片和磁場對厚度的影響
日期：2024-12-23 07:18
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摘要：
涂層測厚儀試片和磁場對厚度的影響
試片
1、邊緣效應(yīng)
本儀器對試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。
2、曲率
試件的曲率對測量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測量。
3、試片的變形
探頭會使軟覆蓋層試件產(chǎn)生變形現(xiàn)象，因此在這些試件上測量會出現(xiàn)不太可靠的數(shù)據(jù)。
試片
1、邊緣效應(yīng)
本儀器對試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。
2、曲率
試件的曲率對測量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測量。
3、試片的變形
探頭會使軟覆蓋層試件產(chǎn)生變形現(xiàn)象，因此在這些試件上測量會出現(xiàn)不太可靠的數(shù)據(jù)。
磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會嚴(yán)重地干擾磁性測量厚度的工作。應(yīng)避免在強(qiáng)磁場或強(qiáng)電場附近使用本儀器，否則儀器會顯示未知的數(shù)據(jù)，或者無法正常工作。