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鍍層測(cè)厚儀校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片-校準(zhǔn)箔和基體介紹
日期:2024-12-24 21:15
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摘要:
鍍層測(cè)厚儀校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片-校準(zhǔn)箔和基體介紹
1.校準(zhǔn)箔
對(duì)于磁性方法,“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對(duì)于渦流方法,通常采用塑料箔。“箔”有利于曲面上的校準(zhǔn),而且比用有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片更合適。
2.基體
(a) 對(duì)于磁性方法,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的磁性和表面粗糙度,應(yīng)與待 測(cè)試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對(duì)于渦流方法,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì),應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的電性質(zhì)相似。為了證實(shí)標(biāo)準(zhǔn)片的適用性,可用標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬與待測(cè)試件基體金屬上所測(cè)得的讀數(shù)進(jìn)行比較。
(b) 如果待測(cè)試件的金屬基體厚度沒(méi)有超過(guò)表一中所規(guī)定的臨界厚度,可采用下面兩種方法進(jìn)行校準(zhǔn):
(1) 在與待測(cè)試件的金屬基體厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn);
(2) 用一足夠厚度的,電學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標(biāo)準(zhǔn)片或試件,但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無(wú)間隙。對(duì)兩面有覆蓋層的試件,不能采用襯墊法。
(3) 如果待測(cè)覆蓋層的曲率已達(dá)到不能在平面上校準(zhǔn),則有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片的曲率或置于校準(zhǔn)箔下的基體金屬的曲率,應(yīng)與試樣的曲率相同。
1.校準(zhǔn)箔
對(duì)于磁性方法,“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對(duì)于渦流方法,通常采用塑料箔。“箔”有利于曲面上的校準(zhǔn),而且比用有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片更合適。
2.基體
(a) 對(duì)于磁性方法,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的磁性和表面粗糙度,應(yīng)與待 測(cè)試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對(duì)于渦流方法,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì),應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的電性質(zhì)相似。為了證實(shí)標(biāo)準(zhǔn)片的適用性,可用標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬與待測(cè)試件基體金屬上所測(cè)得的讀數(shù)進(jìn)行比較。
(b) 如果待測(cè)試件的金屬基體厚度沒(méi)有超過(guò)表一中所規(guī)定的臨界厚度,可采用下面兩種方法進(jìn)行校準(zhǔn):
(1) 在與待測(cè)試件的金屬基體厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn);
(2) 用一足夠厚度的,電學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標(biāo)準(zhǔn)片或試件,但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無(wú)間隙。對(duì)兩面有覆蓋層的試件,不能采用襯墊法。
(3) 如果待測(cè)覆蓋層的曲率已達(dá)到不能在平面上校準(zhǔn),則有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片的曲率或置于校準(zhǔn)箔下的基體金屬的曲率,應(yīng)與試樣的曲率相同。