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產品詳情
  • 產品名稱:時代粗糙度儀測量平臺

  • 產品型號:TA610、TA620、TA630、TA650
  • 產品廠商:國產
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簡單介紹:
時代粗糙度儀測量平臺專門用來配合粗糙度儀使用,是測量復雜形狀零件、曲面零件及**度表面的必備附件。也可作為其他測量的輔助調整工具。
詳情介紹:

時代粗糙度儀測量平臺
    粗糙度儀測量平臺專門用來配合粗糙度儀使用,是測量復雜形狀零件、曲面零件及**度表面的必備附件。也可作為其他測量的輔助調整工具。

1.TA610測量平臺
齒條升降,立柱可以隨意轉動,用來測量不容易放置的工件,可提高測量精度。
花崗巖平臺工作面精度:00級(平面公差值3μm)
花崗巖平臺大小尺寸:400mm×250mm×70mm
垂直升降高度:270mm
垂直升降微調量:20mm

2.TA620測量平臺
絲桿升降,平臺上設置V型槽,用來測量形狀較小的工件,可提高測量精度。
花崗巖平臺工作面精度:00級(平面公差值3μm)
花崗巖平臺大小尺寸:400mm×250mm×70mm
垂直升降高度:300±1mm
升降回程誤差:≤手輪旋轉1/6圈

3.TA650測量平臺(TR300**)
垂直方向上的升降高度:300±1mm (微調由儀器上的可調支架完成)
垂直方向上的旋轉角度:±45°
回程誤差:不大于手輪的1/6圈
平臺的平面度:00級
平臺尺寸:600 X 420 X 80 mm
總高度:695 mm
X—Y平面轉角,俯仰角。
調整范圍:X向 ±12.5mm  Y向:±12.5mm
旋轉角度:粗調 360 微調±5 俯仰角度 0~5

4.TA630微調平臺
X—Y平面轉角,俯仰角。
調整范圍:X向 ±12.5mm  Y向:±12.5mm
旋轉角度:粗調 360 微調±5 俯仰角度 0~5

5.TA631微調平臺
X—Y平面轉角。
調整范圍:X向 ±12.5mm  Y向:±12.5mm
旋轉角度:粗調 360  微調±5

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