德國(guó)菲希爾DELTASCOPE® FMP30**度涂鍍層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介:
德國(guó)菲希爾FISCHER FMP30**度涂鍍層測(cè)厚儀,DELTASCOPE FMP30菲希爾**度涂鍍層測(cè)厚儀采用了磁性測(cè)厚法,DELTASCOPE FMP30菲希爾**度涂鍍層測(cè)厚儀是一種超小型測(cè)量?jī)x,DELTASCOPE FMP30菲希爾**度涂鍍層測(cè)厚儀它能快速、無(wú)損傷、精頦地進(jìn)行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測(cè)量。DELTASCOPE FMP30菲希爾**度涂鍍層測(cè)厚儀可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
DELTASCOPE FMP30菲希爾**度涂鍍層測(cè)厚儀:
DELTASCOPE FMP30菲希爾**度涂鍍層測(cè)厚儀采用了磁性測(cè)厚法,DELTASCOPE FMP30菲希爾**度涂鍍層測(cè)厚儀是一種超小型測(cè)量?jī)x,DELTASCOPE FMP30菲希爾**度涂鍍層測(cè)厚儀它能快速、無(wú)損傷、精頦地進(jìn)行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測(cè)量。DELTASCOPE FMP30菲希爾**度涂鍍層測(cè)厚儀可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
DELTASCOPE FMP30菲希爾**度涂鍍層測(cè)厚儀適合于使用在不需要全部測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ),評(píng)估和輸出,但又需要在各種幾何外形和鍍層厚度范圍的測(cè)試工件上測(cè)量的情況下。配有不同種類(lèi)的探頭以適應(yīng)各種應(yīng)用情況。探頭自動(dòng)識(shí)別。應(yīng)用程式特定的校準(zhǔn)參數(shù)儲(chǔ)存在測(cè)量探頭中,因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進(jìn)行測(cè)量。
DELTASCOPE FMP30菲希爾**度涂鍍層測(cè)厚儀配備有一個(gè)**的和便于讀取的 60 x
DELTASCOPE FMP30**度涂鍍層測(cè)厚儀采用根據(jù)DIN EN ISO 2178, ASTM B499標(biāo)準(zhǔn)的電磁感應(yīng)方法,適用于測(cè)量:
- 非鐵金屬鍍層(例如:鉻,銅,鋅等)在鋼和鐵上
- 油漆,臘克和合成涂層在鋼和鐵上
ISOSCOPE FMP30**度涂鍍層測(cè)厚儀:
ISOSCOPE FMP30氧化膜測(cè)厚儀它能快速、無(wú)損傷、精頦地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層厚度的測(cè)量。ISOSCOPE FMP30氧化膜測(cè)厚儀可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。ISOSCOPE FMP30氧化膜測(cè)厚儀*適用于工程現(xiàn)場(chǎng)**度的測(cè)量;
ISOSCOPE FMP30**度涂鍍層測(cè)厚儀配合渦流探頭:
FTA3.3H,測(cè)量范圍:0 - 1200 μm
FGAB1.3,訂貨號(hào):604-141,測(cè)量范圍:0 - 2000 μm
ISOSCOPE FMP30氧化膜測(cè)厚儀適合于使用在不需要全部測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ),評(píng)估和輸出,但又需要在各種幾何外形和鍍層厚度范圍的測(cè)試工件上測(cè)量的情況下。配有不同種類(lèi)的探頭以適應(yīng)各種應(yīng)用情況。探頭自動(dòng)識(shí)別。應(yīng)用程式特定的校準(zhǔn)參數(shù)儲(chǔ)存在測(cè)量探頭中,因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進(jìn)行測(cè)量。
ISOSCOPE FMP30氧化膜測(cè)厚儀有一個(gè)**的和便于讀取的60 x
ISOSCOPE FMP30氧化膜測(cè)厚儀采用根據(jù)DIN EN ISO 2360, ASTM B244標(biāo)準(zhǔn)的電渦流方法,適用于測(cè)量:
- 非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上,例如:油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上
- 鋁的陽(yáng)極氧化層(非鐵基材)
ISOSCOPE FMP30氧化膜測(cè)厚儀常用渦流探頭:FTA3.3H,訂貨號(hào):604-142,測(cè)量范圍:0 - 1200 μm,測(cè)量精度:0~50μm,± 0.25μm;50~8000μm,± 0.5 %;800~1200μm,< 2.5%
DELTASCOPE FMP30涂層測(cè)厚儀常用磁性探頭:FGAB1.3,訂貨號(hào):604-141,測(cè)量范圍:0 - 2000 μm(45 mils)。測(cè)量精度:0~50μm,± 0.25μm;50~8000μm,± 0.5 %;800~1200μm,< 2.5%